測(cè)厚儀是用來(lái)測(cè)量物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來(lái)連續(xù)測(cè)量產(chǎn)品的厚度(如鋼板、鋼帶、紙張等)。這類儀表中有利用α射線、β射線、y射線穿透特性的放射性厚度計(jì)；有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計(jì)；有利用渦流原理的電渦流厚度計(jì)；還有電容式厚度計(jì)等。而利用微波和激光技術(shù)制成厚度計(jì)，目前還處在研制、試驗(yàn)階段。
1、X射線測(cè)厚儀利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí)，X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性，從而測(cè)定材料的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器。它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心，采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng)，達(dá)到要求的軋制厚度。???主要應(yīng)用行業(yè)：有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加工。
2、紙張測(cè)厚儀：適用于4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測(cè)量。
（1）非接觸式紙張測(cè)厚儀
英國(guó)真尚有公司研發(fā)出了新的非按觸式測(cè)量方法,可以實(shí)現(xiàn)對(duì)紙張的非接觸式測(cè)
量,避免對(duì)紙張?jiān)斐尚巫円鹫`差。
（2）非接觸式測(cè)厚儀的測(cè)量原理
使用兩個(gè)紙張厚度傳感器安裝在被測(cè)物(紙張)上下方,將傳感器固定在穩(wěn)定的支架上確保兩個(gè)傳感器的激光能對(duì)在同一點(diǎn)上。隨著被測(cè)物的移動(dòng)傳感器就開始對(duì)其表面進(jìn)行采樣,分別測(cè)量出目標(biāo)上下表面分別與上下成對(duì)的激光位移傳感器距離,測(cè)量值通過串口傳輸?shù)接?jì)算機(jī),再通過我們?cè)谟?jì)算機(jī)上的測(cè)厚軟件進(jìn)行處理,得到目標(biāo)的厚度值。
3、薄膜測(cè)厚儀：用于測(cè)定薄膜、薄片等材料的厚度，測(cè)量范圍寬、測(cè)量精度高，具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動(dòng)斷電等特點(diǎn)。
4、涂層測(cè)厚儀：用于測(cè)量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度。
涂鍍層測(cè)厚儀根據(jù)測(cè)量原理一般有以下五種類型:
（1）磁性測(cè)厚法:適用層磁材料上的非導(dǎo)镃層厚度測(cè)量。導(dǎo)磁材料一般為:銅,鐵,銀,鎳。此種方法測(cè)量精度高。
（2）渦流測(cè)厚法:適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測(cè)量。此種較磁性測(cè)厚法精度低。
（3）超聲波測(cè)厚法:目前輛還沒有此種方法測(cè)量涂鍍層厚度的,國(guó)外個(gè)別廠家有這樣的似器,適用多層涂鍍層原唐的測(cè)量或者是以上兩種方法都無(wú)法測(cè)量的場(chǎng)合。但一般價(jià)格昂貴,測(cè)量精度也不高。
（4）電解測(cè)厚法:此方法有別于以上三種,不屈于無(wú)損檢測(cè),需要破壞涂鍍層一般精度也不高，測(cè)量起來(lái)比較其他幾種麻煩。
（5）射測(cè)厚法:此處儀器價(jià)格非昂(一般在10萬(wàn)配以上》適用于一些特殊場(chǎng)合、國(guó)內(nèi)目前使用zui為普遍的是第1/2兩種方法。
超聲波測(cè)厚儀：超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來(lái)進(jìn)行厚度測(cè)量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭，通過精確測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量。
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