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阻抗測試儀（特指TDR阻抗測試儀，而非LCR表類儀器）是基于TDR時域反射技術(shù)實現(xiàn)的特性阻抗專用測試儀器。阻抗測試儀是根據(jù)發(fā)射信號在被測件處的反射情況來計算被測件參數(shù)的，與雷達類似。具體描述為：皮秒脈沖發(fā)生器產(chǎn)生極快上升沿的高速階躍信號，并通過高頻電纜、探針傳播到被測件上。該信號在沿被測件傳播的過程中，當遇到開路、短路及阻抗不連續(xù)點時，會在阻抗變化處產(chǎn)生不同程度的反射。反射信號會逆向往回傳播，通過寬帶微波樣器對該反射信號進行采樣，可以獲得反射電壓的信息。對反射信息進行處理及分析后可以得到反射點的特性阻抗值和位置信息，并以可視化的波形顯示出來。反射點位置精度可達毫米級別。

特點：

阻抗測試儀可以用于直接測量單端阻抗、差分阻抗、共模阻抗及時延參數(shù)，阻抗測量精度為單端50Ω：<1%，差分100Ω：<2%，時延測量精度為10ps（約2mm）。

此外，阻抗測試儀還可用于間接測量相對介電常數(shù)、上升時間等參數(shù)。

用途：

阻抗測試儀可以測量所有可以看作是傳輸線的器件，包括PCB阻抗條、微帶線、帶狀線、各類連接器（SMA、N、BNC等）、各類高頻線纜（同軸線、雙絞線、平行雙導線）等等，唯一的前提是被測件的長度應(yīng)不低于儀器可以測量的最小長度。此外，不同的被測件測量一般需要與之匹配的探頭、轉(zhuǎn)換器或夾具，以保證測量時的接觸良好。


優(yōu)勢：

CTS380阻抗測試儀是成都奧特為科技的第四代TDR產(chǎn)品，遵循IPC-TM-650標準設(shè)計。除了完整的保留第三代產(chǎn)品的校準、測試及結(jié)果處理分析等功能外，我們還進行了全面的升級優(yōu)化，和第三代產(chǎn)品以及同類型的其他廠家品牌比起來，CTS380主要有以下幾個方面的優(yōu)勢。

1)增加靜電保護電路，防靜電能力可達HBM分級3A級別（6000V），客戶再也不需要防靜電手腕及防靜電衣服帽子的束縛。

2)優(yōu)化取樣電路，提升帶寬至3.5G，去掉靜電保護電路帶寬可達4.5G，可以測量更短的被測件，在阻抗不連續(xù)點也能夠獲得更高的分辨率和更準確的測量結(jié)果。

3)重新設(shè)計優(yōu)化數(shù)字電路，并增加閉環(huán)取樣電路，測量穩(wěn)定性和一致性提升約40%，在批量測量和重復測試時波動更小，測量數(shù)據(jù)更準確。

4)優(yōu)化插值算法，水平顯示分辨率可達1ps（0.2mm），再短的阻抗不連續(xù)點也能夠清晰準確的顯示出來。