在印制板制造工藝中，最典型的是利用AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀系統(tǒng)在印制板上的應(yīng)用，其中多數(shù)應(yīng)用在多層板的內(nèi)外層或高密度雙面板表面質(zhì)量的檢查。
一、AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀用于PCB底片的檢查
AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀系統(tǒng)的設(shè)計(jì)是根據(jù)底片檢查工藝特性，采用透射的模式即將需要檢查的底片放置在玻璃桌臺(tái)上，而不采用抽真空臺(tái)面，而是通過玻璃桌面的下的光束透過玻璃進(jìn)行對(duì)底片的掃描來檢查底片相應(yīng)位置上的缺陷。
使用AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀對(duì)底片進(jìn)行表面質(zhì)量的檢查，為更加清晰的將印制板表面缺陷呈現(xiàn)出來，對(duì)該系統(tǒng)的放大裝置作了很大的改進(jìn)，達(dá)到了既是印制板表面的很小的缺陷都能檢查出來。
當(dāng)在印制板生產(chǎn)過程中使用該AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀系統(tǒng)時(shí)，就能將印制板面的5um和5um以下的缺陷檢查出來，并且能夠適當(dāng)?shù)膮^(qū)別錯(cuò)誤的真假，就是采用高級(jí)的識(shí)別系統(tǒng)大大的減少故障缺陷的發(fā)生。
另外,容易產(chǎn)生錯(cuò)誤的是由于光具表面銀粒子無光澤，再通過AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀的反射模式，特別是焦點(diǎn)不是在光具銀乳膠膜上，就很容易出現(xiàn)假的讀出。而表面無光澤的粒子致使真空度下降。這些粒子是甲基丙烯酸樹脂，直徑大約7微米，它能夠使光發(fā)出散光。
如果AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀是開始并記錄應(yīng)該發(fā)現(xiàn)的缺陷，唯一的其缺陷的尺寸應(yīng)比10微米要大，這樣用它來檢查就能解決所存在的質(zhì)量問題，而且還有可能解決對(duì)精細(xì)導(dǎo)線（S/L=30/50微米）的檢查。
AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)機(jī)的弱點(diǎn)
在反射模式將白色的紙放置在光具（底片）之下,介于光具透明和不透明范圍之間，以提高其對(duì)比度。經(jīng)過交替的變換達(dá)到或接近所使用的標(biāo)準(zhǔn)的AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀系統(tǒng)。這種方法不是通用的的，更多的傾向是由于微小的劃傷，才會(huì)出現(xiàn)假的缺陷報(bào)告。
對(duì)于有阻抗要求的導(dǎo)線寬度公差控制不會(huì)比±5-10微米變化更大是可能的。而AOI的靈敏度不會(huì)記錄這樣的線寬變化。檢查光具（即底片）通常應(yīng)該在清潔的、黃光室內(nèi)進(jìn)行，不建議到AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀作業(yè)區(qū)進(jìn)行檢查，應(yīng)此區(qū)域清潔度不夠。因此，實(shí)際上AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀不是檢查內(nèi)層或外層的光具膜的機(jī)器。
為什么要使用AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀檢測(cè)玻璃底版？
AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀實(shí)際上也可以檢驗(yàn)玻璃底版的圖像質(zhì)量，即玻璃上鍍鉻膜。這些底版通常制作和檢驗(yàn)是通過轉(zhuǎn)包公司再送交PWB制造廠的。典型的要求就是底版上的缺陷的尺寸在5微米或更大些。許多使用玻璃底版的用戶也使用檢查玻璃的工具進(jìn)行檢查，以延長(zhǎng)使用的壽命。但使用玻璃底版也很貴。
玻璃底版至少要曝光百次以上，最典型的次數(shù)為200-500次，就必須使用AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀對(duì)玻璃底版圖像進(jìn)行質(zhì)量檢查，還可以通過曝光試驗(yàn)，如底版的圖像好就可以接著使用，或者進(jìn)行修整。
AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀在其它方面的應(yīng)用也比較多，特別是對(duì)高密度互連結(jié)構(gòu)（HDI）微通孔和表面的檢查。而且還應(yīng)用在IC封裝和裝配中的印制板的檢查。AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀很有效地應(yīng)用諸多方面，為提高印制板的表面質(zhì)量，發(fā)揮了重要的作用。
