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  • 適用于檢測PCB內(nèi)、外層?蝕刻后線路的上幅及下幅寬度、線間距離、孔到邊線距離，以及圓孔、盲孔、弧的直徑等，并適用于IC晶片、薄膜和LCD等線寬線距的測量。
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